 | 產(chǎn)品名稱：四探針電阻率測(cè)試儀/四探針電阻率儀/四探針電阻率測(cè)定儀/電阻率測(cè)試儀
產(chǎn)品型號(hào)：RTY-WSP-22
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四探針電阻率測(cè)試儀/四探針電阻率儀/四探針電阻率測(cè)定儀/ 型號(hào)：RTY-WSP-22
一、產(chǎn)品介紹
硅料分選檢驗(yàn)綜合儀是我公司一款專門為拉單晶廠和多晶鑄錠廠商硅料分選、檢驗(yàn)、檢測(cè)而設(shè)計(jì)的。它可以快速準(zhǔn)確測(cè)量硅料的電阻率。可以檢測(cè)所有類型的硅料：母合金摻雜濟(jì)電阻率檢測(cè)可以到0.0001-999.99Ω·㎝，及各種碎片料、米粒料、片料，塊料，頭尾料、堝底料、邊皮料等等。
二、產(chǎn)品特點(diǎn)
■電阻率測(cè)量：大屏幕清晰顯示硅料電阻率值，方便檢料工快速分選。
■電流測(cè)量：本儀器采用先進(jìn)芯片技術(shù)，可通過調(diào)節(jié)硅材料厚度，儀器可直接鎖定電流，使測(cè)量使用更加簡便準(zhǔn)確，本儀器可根據(jù)需要配備測(cè)試平臺(tái)， 利用測(cè)試平臺(tái)可以測(cè)試薄片電阻率。
■ 四探針：一次測(cè)量，顯示完整電阻率值。
■ 采用了*的恒流源技術(shù)，能夠滿足寬范圍的電阻率測(cè)試要求
三、技術(shù)指標(biāo)
■ 高阻電阻率量程：0.10~999.99Ω·㎝
低阻電阻率量程：0.0001~0.1000Ω·㎝
■ 高阻測(cè)量精度：到百分位（即到小數(shù)點(diǎn)后二位）
低阻測(cè)量精度：到千分位（即到小數(shù)點(diǎn)后四位）
注：低阻一般用于測(cè)量低于0.10Ω·㎝以下硅料，如母合金，高于0.10Ω·㎝一般用高阻測(cè)量。
四、使用方法
1、連接好測(cè)試探頭電纜與主機(jī)，接上電源。
2、低阻測(cè)量開關(guān)打向左，高阻測(cè)量打向右。如下圖所示。
3、調(diào)節(jié)厚度，按‘+’、‘-’調(diào)節(jié)，如圖所示，數(shù)值為3.98mm。厚度過3.98mm以3.98mm為準(zhǔn)。
4、用四探針接觸硅材料，以探針壓下三分之二為準(zhǔn)，待儀器顯示數(shù)字穩(wěn)定即可。低阻為左邊顯示屏，高阻為右邊顯示屏。單位為 Ω·cm。
五、測(cè)試四探針筆
一般情況下，更換鋼針之類，不需要拆開探頭，只需要用拔出要更換的鋼針，再重新安裝新針，如果斷針在孔內(nèi)并且不拆開難以取出，必須按照以下步驟進(jìn)行操作：
A、先松開筆身尾部端側(cè)面的固定小螺絲，輕輕脫下尾部航空插口，保證探針頭部旋轉(zhuǎn)時(shí)同步旋轉(zhuǎn)，防止扭線斷線，短接。
B、輕輕擰開探針頭子，然后小心將銅片拉出，記住七片緣片與銅片之間的位置，（四片銅片每片間夾一片緣片，兩邊的銅片外側(cè)各兩片，如下圖），將斷針從銅片卡口座里取下即可。
C、特別注意一定不能將銅片取下時(shí)的位置錯(cuò)亂，銅片位置按照航空頭四芯1、2、3、4接線綠、紅、黃、黑的順序一字排列，并且銅片之間按照寬窄順序互相交叉排列，以免短接。
D、安裝時(shí)銅片及緣片按照拆下時(shí)的排列輕輕塞進(jìn)探針頭子，并先將探針頭子擰緊，再將尾部航空頭插上，并且旋緊小螺絲。
E、將針裝好，注意針頭針尾方向，尖頭為探針頭部。
六、注意事項(xiàng)
1儀器操作前請(qǐng)您仔細(xì)閱讀使用說明書，規(guī)范操作。
2輕拿輕放，避免儀器震動(dòng)，水平放置，垂直測(cè)量。
3儀器不使用時(shí)請(qǐng)切斷電源，連接線無需經(jīng)常拔下，避免灰塵進(jìn)入航空插頭引起短接等現(xiàn)象。
4探針筆測(cè)試結(jié)束，套好護(hù)套，避免人為斷針。
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